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本設備(bei)主要用(yong)于手機附件如攝(she)像頭鏡(jing)片、鏡(jing)頭模組(zu)支架、SIM卡拖(tuo)、按(an)鍵、等零組(zu)件的(de)尺(chi)寸、厚(hou)(hou)度(du)(du)、平(ping)(ping)面度(du)(du)、孔徑、外(wai)觀(guan)(缺陷(xian)(xian)類)的(de)綜合(he)檢(jian)(jian)測(ce)設備(bei)。設備(bei)內包(bao)含1套CCD視覺(jue)檢(jian)(jian)測(ce)系統,最(zui)多可支持4攝(she)像頭檢(jian)(jian)測(ce),用(yong)于檢(jian)(jian)測(ce)平(ping)(ping)面尺(chi)寸,以及外(wai)觀(guan)缺陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)。1套線(xian)激光,用(yong)于高(gao)度(du)(du)差、厚(hou)(hou)度(du)(du)、平(ping)(ping)面度(du)(du)檢(jian)(jian)測(ce)。
設(she)備檢測完成后,自(zi)動按設(she)置要求進(jin)行分(fen)類(lei),當前設(she)備分(fen)為三(san)類(lei) 良品 不良品 待定。
由(you)機械(xie)手(shou)自動分類取出(chu),并(bing)放置到指定位置。
設備主要(yao)性能參數:
測(ce)量精(jing)度:
平面(mian)尺寸檢測:±0.01mm (20*30mm視野(ye))
高(gao)度(du)(厚度(du))檢測:±0.001mm
平面度檢測:0.001mm
高度落差檢(jian)測(ce):±0.001mm
設備速度:
相機尺寸檢測:0.3S
相機缺陷(xian)檢測:0.5S
激光高度檢測:0.2S
激(ji)光(guang)平面度檢測:1.5S-3S(根據產品尺寸變化)
參考案(an)例(li):
SIM卡綜合測試,檢測項(xiang)目:外觀變(bian)形、SIM卡槽(cao)尺寸、激光標識、厚度、卡槽(cao)深度、平形度。測試時(shi)間(jian) 4S/PCS。
鏡頭支架綜合測(ce)(ce)試,檢測(ce)(ce)項目:注塑缺陷、平面尺寸、鏡頭孔徑、鏡片(pian)框長寬、支架平形度(du)。測(ce)(ce)試時間 3S/PCS
目前(qian)設備為人工(gong)上下(xia)料,可(ke)根據需(xu)求增加上下(xia)料機(ji)構。
配置參數:
檢測效率 | 1200PCS/H |
適用范圍 | 尺(chi)寸(cun)小于60*60(mm)零(ling)組件 |
測量系統 | 日本(ben)基恩士相機系統+激光3D輪廓(kuo)儀 |
控制系統 | 基恩士PLC控制器+工(gong)業電腦(nao) |
檢測精度 | 最高可達1um |
材料要求 | 非鏡面反光材料 |
設備功率 | <2KW |